產(chǎn)品列表PRODUCTS LIST
中國(guó)臺(tái)灣益和LCR測(cè)試儀6365MICROTEST 6367 LCR測(cè)試儀提供10Hz-200kHz，量測(cè)參數(shù)包含|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(質(zhì)量因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)，支援RS-232、Handler、LAN、USB Host 、Handler、GPIB通訊接口等。
中國(guó)臺(tái)灣益和LCR測(cè)試儀6364MICROTEST 6364 LCR測(cè)試儀提供10Hz-100kHz，量測(cè)參數(shù)包含|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(質(zhì)量因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)，支援RS-232、Handler、LAN、USB Host 、Handler、GPIB通訊接口等。
中國(guó)臺(tái)灣益和LCR測(cè)試儀6363概述MICROTEST 6363 LCR測(cè)試儀提供10Hz-20kHz，量測(cè)參數(shù)包含|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(質(zhì)量因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)，支援RS-232、Handler、LAN、USB Host 、Handler、GPIB通訊接口等。
中國(guó)臺(tái)灣益和LCR測(cè)試儀6365A概述MICROTEST 6365A LCR測(cè)試儀提供0.1Hz-200kHz，可應(yīng)用于電化學(xué)阻抗或電池材料測(cè)試，極低起步頻率從0.1Hz開始，量測(cè)參數(shù)包含|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(質(zhì)量因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)，支援RS-232、Handler...
中國(guó)臺(tái)灣益和LCR測(cè)試儀6365BMICROTEST 6365B LCR測(cè)試儀提供1mHz-200kHz，可應(yīng)用于電化學(xué)阻抗或電池材料測(cè)試，極低起步頻率從0.1Hz開始，量測(cè)參數(shù)包含|Z|(阻抗)、|Y|(導(dǎo)納)、θ(相位角)、X(電抗)、R(串并聯(lián)電阻)、G(電導(dǎo))、B(電納)、L(電感)、D(損耗因子)、Q(質(zhì)量因子)、DCR(直流電阻) 、C(電容)，支援RS-232、Handler.....
是德KEYSIGHT精密型LCR表E4980A實(shí)現(xiàn)測(cè)量精度、速度與通用性的理想結(jié)合，適用于各種元件測(cè)量。無論是在低阻抗范圍還是在高阻抗范圍，E4980A 均能提供超快的測(cè)量速度和出色的測(cè)量性能，因此是常規(guī)元件和材料研發(fā)及制造應(yīng)用所必需的測(cè)試工具。LAN、USB 和 GPIB PC連通性能夠提高設(shè)計(jì)和測(cè)試效率。
是德KEYSIGHT精密型LCR表E4980AL為基礎(chǔ)型 LCR 表樹立了，實(shí)現(xiàn)了測(cè)量精度、速度與通用性的理想結(jié)合，適用于各種元件測(cè)量。包括多種頻率升級(jí)選件，確保良好的投資回報(bào)率和資產(chǎn)利用率。無論是在低阻抗范圍還是在高阻抗范圍，E4980AL 均能提供超快的測(cè)量速度和出色的測(cè)量性能，是常規(guī)元件和材料研發(fā)及制造應(yīng)用的*測(cè)試工具。
是德KEYSIGHT精密型LCR表E4982A可為 SMD 電感器、EMI 濾波器等無源元器件的制造測(cè)試提供好的性能，其中需要在高頻率上進(jìn)行阻抗測(cè)試（1 MHz ～ 3 GHz）。除了制造測(cè)試之外，E4982A 還可用于研發(fā)領(lǐng)域，借助強(qiáng)大的功能（例如列表測(cè)量）提供質(zhì)量保證。
